DUALSCOPE MP0涂層厚度測(cè)試
- 當(dāng)儀器放在工件上時(shí)自動(dòng)開(kāi)啟。如果儀器放在非鐵磁性或不導(dǎo)電材料上,顯示屏?xí)@示“Er6",然后顯示四個(gè)水平短線而不顯示任何讀數(shù)。
- 另一種開(kāi)機(jī)方法是按 [OK]鍵。
DUALSCOPE MP0涂層厚度測(cè)試
1 開(kāi) / 關(guān)儀器
說(shuō)明:儀器沒(méi)有專門的開(kāi)關(guān)。
打開(kāi)儀器
- 當(dāng)儀器放在工件上時(shí)自動(dòng)開(kāi)啟。如果儀器放在非鐵磁性或不導(dǎo)電材料上,顯示屏?xí)@示“Er6”,然后顯示四個(gè)水平短線而不顯示任何讀數(shù)。
- 另一種開(kāi)機(jī)方法是按 [OK]鍵。
請(qǐng)注意!
不要通過(guò)手指壓迫傳感器來(lái)開(kāi)啟儀器!這樣可能會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的測(cè)量結(jié)果。
關(guān)閉儀器 / 自動(dòng)關(guān)閉
一分鐘不使用,儀器會(huì)自動(dòng)關(guān)閉。 (關(guān)閉 = 儀器沒(méi)有任何顯示)。
2 測(cè)量涂鍍層厚度
- 儀器開(kāi)啟后,把儀器放在要測(cè)量工件上,等待儀器發(fā)出測(cè)量聲響。這種方式可以自動(dòng)開(kāi)啟儀器。
- 把儀器提離工件。
測(cè)量聲響后顯示讀數(shù)。說(shuō)明:若太早提起儀器(未有聲響前),錯(cuò)誤信息 “Er6”會(huì)出現(xiàn)。重復(fù)步驟1。
3. 當(dāng)儀器已在開(kāi)啟狀態(tài)時(shí), 讀數(shù)會(huì)馬上顯示。儀器放在測(cè)量工件上及提起后均有顯示。
1 顯示儀器內(nèi)儲(chǔ)存的測(cè)量數(shù)據(jù)
儀器zui多可以儲(chǔ)存999個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)。
- 用 [5]鍵或 [6]鍵可翻看測(cè)量數(shù)據(jù)。
- 翻過(guò)*個(gè)或者zui后一個(gè)測(cè)量數(shù)據(jù)后,屏幕將顯示 “- - - - “并維持1秒鐘左右。
任何時(shí)候您都可以繼續(xù)測(cè)量。
2 刪除所有測(cè)量數(shù)據(jù)
- 按 [5] 或 [6]鍵。
- 按 [CAL]鍵。
“del” 即刪除將顯示 2 秒鐘。 - 在“del”顯示的時(shí)候按[OK]鍵。
儀器內(nèi)所有測(cè)量數(shù)據(jù)將被刪除。
當(dāng) “del”不顯示的時(shí)候按 [OK]鍵將無(wú)任何反應(yīng)。
3 歸一化
歸一化用來(lái)對(duì)測(cè)量?jī)x器進(jìn)行調(diào)整。歸一化需要未鍍過(guò)的底材,而且底材的形狀和物料必須和被測(cè)量的工件*。
說(shuō)明:歸一化會(huì)刪除所有的內(nèi)存數(shù)據(jù)。
歸一化儀器 (前提: 儀器處于開(kāi)啟狀態(tài))
- 按 [CAL]鍵. 顯示 "Base" (即 “未鍍過(guò)的底材”).
- 在底材上測(cè)量五次左右
每次測(cè)量后,會(huì)顯示當(dāng)前的讀數(shù)。 - 按兩次[OK] 鍵.
屏幕顯示 “Er17”,忽略它。
完成歸一化程序。
4 校準(zhǔn)
校準(zhǔn)需要有下面幾項(xiàng)東西:底材(形狀和底材物料要與待測(cè)部件*)和一片標(biāo)準(zhǔn)片(儀器隨機(jī)的75 µm左右標(biāo)準(zhǔn)片)。 說(shuō)明:校準(zhǔn)將刪除內(nèi)存中的所有讀數(shù)。
校準(zhǔn)儀器(前提:儀器必須打開(kāi))
- 按 [CAL]鍵。
顯示 "Base" (即 “未鍍過(guò)的底材”) - 在底材上測(cè)量五次左右.
每次測(cè)量后,會(huì)顯示當(dāng)前的讀數(shù)。 - 按 [OK]鍵.
顯示 0.00 和 STD1 (即校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 # 1). - 把校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片放在底材上,并測(cè)量5次左右。
每次測(cè)量后,屏幕上會(huì)顯示當(dāng)前讀數(shù)。 - 用 [5] 或 [6]鍵調(diào)整第4步的zui后一個(gè)數(shù)值至標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱值, 如“75 µm”。 標(biāo)準(zhǔn)片的標(biāo)稱值注明在標(biāo)準(zhǔn)片上。
- 按 [OK]鍵。
完成校準(zhǔn)程序. 儀器返回測(cè)量狀態(tài).
5 刪除校準(zhǔn)資料 / 恢復(fù)初始曲線
有時(shí),如果經(jīng)過(guò)校準(zhǔn)后,儀器測(cè)量仍然不準(zhǔn)確,則可以刪除校準(zhǔn)參數(shù)。如果先前的校準(zhǔn)程序沒(méi)有正確進(jìn)行的話,就可能會(huì)發(fā)生這種情況。
在這種情況下,可以把特征曲線恢復(fù)到原始的出廠設(shè)定。
刪除儀器的校準(zhǔn)參數(shù) (前提:儀器必須打開(kāi))
- 按[CAL]鍵. 屏幕上顯示"Base" (即 “底材”) .
- 在底材上測(cè)量5次左右.
- 按[OK]鍵. 顯示 “STD1" (即校準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)片 # 1) .
- 在底材上測(cè)量1次.
屏幕將顯示0左右的讀數(shù). - 用[5] 或 [6] 鍵將 STD1調(diào)整到 0.00 .
屏幕將顯示 “0.00 STD1” . - 按 [OK] 鍵。恢復(fù)到初始的特征曲線。
恢復(fù)完成。 儀器現(xiàn)在可以測(cè)量了。
6 服務(wù)菜單
進(jìn)入服務(wù)菜單及設(shè)定方法:
- 按[OK]鍵10次。屏幕上顯示“157”。
- 用[5]鍵設(shè)定到“159”。
- 按[OK]。屏幕顯示 FREE。
- 用[5] [6]鍵選擇服務(wù)菜單編號(hào) (只可選 # 5 到 #10)
- 重復(fù)按[OK]選擇菜單內(nèi)容, 利用 [5]或 [6] 進(jìn)行設(shè)定。
- zui后按[OK]離開(kāi)服務(wù)程序。
7.技術(shù)參數(shù):
量 程 | 0~2000μm |
精 度 | ±1μm(0~50μm); ±2%(50μm~1000μm); ±3%(1000μm~2000μm) |
重復(fù)精度 | ±0.5μm(0~100μm); ±0.5%(>100μm) |
zui小測(cè)量曲率直徑 | 在精度范圍內(nèi),鐵基φ35mm,非鐵基φ50mm; (在允許誤差<10%時(shí),鐵基為φ10mm,非鐵基為φ2mm) |
zui小測(cè)量面積直徑 | φ4mm(在允許誤差<10%時(shí),為φ2mm) |
zui小基體厚度 | 鐵基0.2mm(誤差<10%時(shí));非鐵基0.09mm(誤差<10%時(shí)) |
重 量 | 60g(不含電池) |
外形尺寸 | 64mm×30m×85mm |
電 源 | 兩節(jié)5號(hào)電池 |
標(biāo)準(zhǔn)配置 | 主機(jī)一臺(tái);鐵、鋁基體各一塊;標(biāo)準(zhǔn)片一片;手提儀器盒;操作手冊(cè) |