Fischer測(cè)厚儀可檢測(cè)鎳 金 銀涂層厚度 返回列表頁(yè)

Fischer測(cè)厚儀可檢測(cè)鎳 金 銀涂層厚度及元素分析

Fischer測(cè)厚儀可檢測(cè)鎳 金 銀涂層厚度及元素分析

    Helmut Fischer集團(tuán)是一家受德國(guó)和瑞士基金會(huì)控股、專業(yè)生產(chǎn)和銷售涂鍍層測(cè)厚儀、材料分析儀、微硬度測(cè)試儀和材料測(cè)試儀的集團(tuán)公司。集團(tuán)總部位于德國(guó)和瑞士，在德國(guó)、美國(guó)和英國(guó)各建有一個(gè)工廠、并設(shè)立了一個(gè)研究院和一個(gè)用戶應(yīng)用實(shí)驗(yàn)室，在*設(shè)有近50個(gè)分公司。
    公司由Helmut Fischer 博士于1953 年成立，自2008 年起由德國(guó)辛德芬根和瑞士休倫堡的 Helmut Fischer 基金會(huì)共同擁有。HELMUT FISCHER Holding AG 涂鍍層測(cè)厚、材料分析、微硬度測(cè)試和材料測(cè)試領(lǐng)域可以為您提供比較*的解決方案。

    FISCHER 的臺(tái)式涂鍍層測(cè)厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測(cè)量技術(shù)，能提供好的性能和靈活性。由于運(yùn)用了各種測(cè)量技術(shù)，因此能夠?yàn)槿魏螠y(cè)量任務(wù)提供合適的解決方案。臺(tái)式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中。

FISCHER臺(tái)式熒光射線測(cè)厚儀型號(hào)及功能

GOLDSCOPE

GOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設(shè)計(jì)的 

XAN

用于快速、高效地測(cè)量鍍層厚度及材料成分分析的測(cè)量?jī)x器。 

XUL / XULM

基于 X 射線熒光法的測(cè)試儀器，堅(jiān)固耐用，快速、高效地測(cè)量鍍層厚度，特別適合電鍍行業(yè)。

XDL / XDLM / XDAL

功能強(qiáng)大：XDL 系列儀器具有全面的配置方案，可手動(dòng)或自動(dòng)測(cè)試，是鍍層厚度測(cè)量與材料成分分析的理想之選。

XDV-SDD

FISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足高要求的鍍層厚度測(cè)量和材料分析而設(shè)計(jì) 

XDV-µ

FISCHER的XDV-µ型系列儀器，可用于測(cè)量電子或珠寶等行業(yè)中微小結(jié)構(gòu)的產(chǎn)品

XUV

X 射線熒光儀器，配有用于分析輕元素的真空測(cè)量室。