Fischer臺(tái)式熒光測(cè)厚儀/光譜儀 返回列表頁

Fischer臺(tái)式熒光測(cè)厚儀/光譜儀

Fischer臺(tái)式熒光測(cè)厚儀/光譜儀

 FISCHERSCOPE® X-RAY XAN系列配置多樣，可以滿足非常廣泛的應(yīng)用。它在快速分析和用戶友好操作方面具備特殊的優(yōu)勢(shì)，如用于貴金屬和金合金的分析。也可以用于電子和線路板行業(yè)超薄鍍層分析。

應(yīng)用實(shí)例
配備不同類型探測(cè)器的儀器都可以用來分析金合金。例如，配備了便宜的比例接收器探測(cè)器的XAN110，是分析包含幾個(gè)元素的簡(jiǎn)單金合金的理想設(shè)備，例如分析含Au、Ag和Cu的黃色金合金。但是，如果合金中很多元素要測(cè)量或存在光譜重疊情況，那么配備半導(dǎo)體探測(cè)器的儀器，如XAN120，應(yīng)該更加適合。由于具備非常好的分辨率，它也可以用來區(qū)分例如在牙合金中非常關(guān)鍵的金和鉑以及融合的貴金屬合金。
對(duì)于實(shí)驗(yàn)室和測(cè)試機(jī)構(gòu)而言，XAN150配備了硅漂移接收器（SDD），六種濾片和四種不同的準(zhǔn)直器，可以滿足多種多樣的應(yīng)用。這款儀器Au的重復(fù)精度可達(dá)0.5‰以下，準(zhǔn)確性可以灰吹法相媲美。

典型應(yīng)用領(lǐng)域

珠寶和手表行業(yè)金和貴金屬分析

測(cè)量幾個(gè)納米的超薄鍍層，如印刷線路板和電

子元件上的Au和Pd。

痕量分析（如電子元件(RoHS)或工具中的有害

物質(zhì)）

用XAN 150分析諸如Al，Si，P等輕元素

實(shí)驗(yàn)室，測(cè)試機(jī)構(gòu)和大學(xué)里一般性的材料分析

和鍍層厚度測(cè)量