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產品型號Probe FAI 3.3-150

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所在地上海市

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更新時間：2022-05-21 23:30:02瀏覽次數：9次

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產品簡介

菲希爾測厚儀探頭可測孔內壁涂層厚度
任何一個電磁測量系統的核心都會是探頭，其信號質量Z終決定了計量方案的整體測量質量。進過多年的研發(fā)和創(chuàng)新，FISCHER現在擁有超過100種探頭，可以在各種測量任務中實現具有Z高。

詳情介紹

菲希爾測厚儀Probe FAI 3.3-150筷子探頭適合測量孔洞、管子、細槽（直徑需要大于等于9毫米）內的涂鍍層厚度測量。

一次測量的質量，主要由幾個關鍵因素決定。包括：選擇適當的探頭和探頭本身的質量等。Helmut FischerGmbH為您提供種類繁多而又品質的高精度探頭，所有探頭都是按照zui高的品質要求自行開發(fā)和生產。

鍍層/底材的種類是選擇探頭zui重要的依據。另外，鍍層的大致厚度、底材的材料、測量點的面積以及樣品的形狀和表面情況都是選擇探頭時需要考慮的因素。曲率補償探頭（渦流法）適用于不同曲面的樣品；雙觸點探頭能夠在粗糙的表面上得到的結果。FMP10、FMP20、FMP30、FMP40型儀器都可以通過連接不同的探頭來滿足您不同的測量需求。