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Fischer測量臺與樣品支架

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產(chǎn)品型號

品       牌

廠商性質(zhì)代理商

所  在  地上海市

更新時間:2022-05-21 23:20:02瀏覽次數(shù):10次

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Fischer測量臺與樣品支架

Fischer測量臺與樣品支架

 

通過手動測量臺,能夠避免探頭傾斜或?qū)μ筋^施加的力度過大等誤操作。每次測量,樣品上的測量點都能準確對準并準確可靠的接觸上。除此之外,自動測量臺非常適用于多個測量點的全自動測試。

特性:

  • 手動測量臺:控制樣品上的探頭的位置方向
  • 自動測量臺:通過持續(xù)移動及不變的加載力進行接觸式測量,以實現(xiàn)*可重現(xiàn)的結(jié)果,zui為適用于多個測量位置的自動化測試
  • 耐用的高質(zhì)量測試臺能夠測量具有挑戰(zhàn)性的被測樣品,如箔、線、環(huán)、芯片或流體等形態(tài)的樣品。

 

儀表支架與樣品架
FMP30系列特性:(比FMP10多的特性)
可儲存20,000個測量數(shù)據(jù),可儲存100個應用程式,可儲存4,000個數(shù)據(jù)組;
數(shù)據(jù)組帶日期和時間標志,數(shù)據(jù)組和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計值,測量數(shù)據(jù)直方圖顯示;
可以輸入過程公差極限并計算相應的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk;
當超出公差極*,有聲音和視覺警告信號;
連續(xù)測量模式下,測量數(shù)據(jù)可在上下限范圍內(nèi)模擬顯示;
外部按鍵觸發(fā)測量模式,可用于測量小尺寸的圓管內(nèi)壁;
可在已經(jīng)涂鍍層的底材上校準(僅適用于磁感應方法),
可使用矩陣測量模式進行大量測量,
取平均值:僅儲存幾個測量數(shù)據(jù)的平均值,
區(qū)域測量:只顯示讀數(shù),探頭提起后才儲存并取平均值,
探頭放在工件上可連續(xù)測量,
離奇值控制可自動排除錯誤的測量值,
可修改已儲存的測量值,
應用程式連接模式:可共享校準信息,
通過MP-Name軟件可以為應用程式命名,
USB接口可連接打印機,

Fischer測量臺與樣品支架

當待測樣品的尺寸和幾何形狀超出純手動測量的能力范圍時,測量臺將成為受青睞的輔助工具。FISCHER提供用于接觸式測量技術(shù)的手動和自動測量臺。即使對于缺乏經(jīng)驗的用戶,它們也可以提供恒定的測試條件,從而確保得到準確而高重復性的測量結(jié)果。在這種情況下,測量難度越大,收益就越大。通過手動測量臺,能夠避免探頭傾斜或?qū)μ筋^施加的力度過大等誤操作。每次測量,樣品上的測量點都能準確對準并準確可靠的接觸上。除此之外,自動測量臺非常適用于多個測量點的全自動測試。

FMP30系列特性:(比FMP10多的特性)
可儲存20,000個測量數(shù)據(jù),可儲存100個應用程式,可儲存4,000個數(shù)據(jù)組;
數(shù)據(jù)組帶日期和時間標志,數(shù)據(jù)組和所有數(shù)據(jù)統(tǒng)計值,測量數(shù)據(jù)直方圖顯示;
可以輸入過程公差極限并計算相應的工藝能力指數(shù)Cp和Cpk;
當超出公差極*,有聲音和視覺警告信號;
連續(xù)測量模式下,測量數(shù)據(jù)可在上下限范圍內(nèi)模擬顯示;
外部按鍵觸發(fā)測量模式,可用于測量小尺寸的圓管內(nèi)壁;
可在已經(jīng)涂鍍層的底材上校準(僅適用于磁感應方法),
可使用矩陣測量模式進行大量測量,
取平均值:僅儲存幾個測量數(shù)據(jù)的平均值,
區(qū)域測量:只顯示讀數(shù),探頭提起后才儲存并取平均值,
探頭放在工件上可連續(xù)測量,
離奇值控制可自動排除錯誤的測量值,
可修改已儲存的測量值,
應用程式連接模式:可共享校準信息,
通過MP-Name軟件可以為應用程式命名,
USB接口可連接打印機,
 

 

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