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Surtronic DUO高精度粗糙度儀

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所  在  地上海市

更新時間:2022-05-21 22:00:02瀏覽次數(shù):25次

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Surtronic DUO高精度粗糙度儀
每個組件表面都會有一些紋理形狀因結(jié)構(gòu)和制造方式而有所差異。這些表面可以劃分為三個主要類別:粗糙度、波紋度和形狀。為了控制制造過程或預(yù)測組件在使用過程中的行為,有必要使用表面紋理參數(shù)對表面特征進(jìn)行量化。

Surtronic DUO高精度粗糙度儀

表面粗糙度基礎(chǔ)
    每個組件表面都會有一些紋理形狀因結(jié)構(gòu)和制造方式而有所差異。這些表面可以劃分為三個主要類別:粗糙度、波紋度和形狀。為了控制制造過程或預(yù)測組件在使用過程中的行為,有必要使用表面紋理參數(shù)對表面特征進(jìn)行量化。

表面紋理參數(shù)可分為三個基本類型:
振幅參數(shù)-測量表面偏差的垂直特征
間距參數(shù)-測量表面偏差的水平特征
混合參數(shù)-間距參數(shù)和振幅參數(shù)的組合
樣本長度-輪廓會劃分為樣本長度|,它的長度足以容納進(jìn)行可靠的統(tǒng)計所需的數(shù)據(jù)量。對于粗糙度和波紋度分析,樣本長度等于選擇的截止長度。
截止長度(Lc) -截止長度是使用電子或數(shù)學(xué)方法移除或減少不必要的數(shù)據(jù)以查看重點區(qū)域的波長的濾波器。樣本長度也稱為截止長度。
測定長度-用于評估要測定輪廓的X軸方向的長度。測定長度可能包含-一個或多個樣本長度。對于原始輪廓,測定長度等于樣本長度。
標(biāo)準(zhǔn)一適用時,泰勒*霍普森設(shè)備會遵從ISO3274-1996、ISO 4287-1997、ISO 4288-1996、ISO11562和其他標(biāo)準(zhǔn)所規(guī)定的程序。
測量原理
通過采用耐磨的金剛石測針部件,以及精密的機(jī)動驅(qū)動裝置,確保行進(jìn)正確的水平距離。當(dāng)測針劃過波峰和波谷時,高感應(yīng)度的壓電傳感器能檢測到它的垂直移動,然后將機(jī)械移動轉(zhuǎn)化為電子信號。電子信號將進(jìn)行數(shù)字化處理并發(fā)送到微處理器,然后使用標(biāo)準(zhǔn)化算法即時計算表面粗糙度參數(shù)。

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