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ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀

儀器介紹
ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。
技術(shù)參數(shù)
ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz。 ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)：
1雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。
2雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。
3雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。
4自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。
5全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。
6DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。
7計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路*化 —使測(cè)試回路殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。
ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為精確，測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位。
    主要技術(shù)特性
Q 值測(cè)量范圍   2 ～ 1023 ，量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔
固有誤差   ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
工作誤差   ≤7％ ± 滿度值的2％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）
電感測(cè)量范圍   4.5nH ～ 140mH
電容直接測(cè)量范圍   1 ～ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍   18 ～ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度   120pF 以下 ± 1.2pF ； 120pF 以上 ± 1 ％
信號(hào)源頻率覆蓋范圍   100kHz ～ 160MHz
頻率分段（虛擬）   100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz
頻率指示誤差   3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字

ZJD-C dielectric constant and dielectric loss tester

儀器介紹

Introduction of apparatus

ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀是根據(jù)GB/T 1409《測(cè)量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻（包括米波波長(zhǎng)在內(nèi)）下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的試驗(yàn)方法》（等效采用IEC 60250）設(shè)計(jì)和制造的，并符合JB 7770等試驗(yàn)方法。它適用于在高頻（1MHz）下絕緣材料的測(cè)試。

ZJD-C dielectric constant and dielectric loss tester is according to GB/T 1409 "measurement of electrical insulating materials at power, audio, high-frequency (including wavelength, VHF) test method for permittivity and dielectric loss factor" (equivalent to adopt the IEC 60250) design and manufacturing, and in accordance with the JB 7770 test method. It is suitable for high frequency (1MHz) of insulating materials under test.

技術(shù)參數(shù)

Technical parameters

ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀作為一代的通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試儀器，測(cè)試頻率上限達(dá)到目前高的160MHz。 ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀采用了多項(xiàng)技術(shù)：

Impedance test instrument ZJD-C dielectric constant and dielectric loss tester as the latest generation of GM, multi-purpose, multi range, limit test frequency reaches the highest at 160MHz. ZJD-C dielectric constant and dielectric loss tester adopts many advanced technology:

1雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。

1 double scanning technology - testing frequency and tuning capacitor double scanning, automatic tuning the search function.

2雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過數(shù)字按鍵輸入。

2 pairs of test element input - testing frequency and tuning capacitor value can be input by digital keyboard.

3雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧，數(shù)碼化電容調(diào)諧。

3 double digital tuning - digital frequency tuning, digital tuning capacitor.

4自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。

Automatic measurement of 4 automatic measurement techniques - Q value, resonant frequency and capacitance of test piece.

5全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。

5 the parameters of liquid crystal display, digital display main capacitor, inductor, Q value, signal source frequency, resonant pointer.

6DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真，頻率的高精確、幅度的高穩(wěn)定。

6DDS direct digital synthesis signal source to ensure high Baozhen source, high stability and high precision, amplitude and frequency.

7計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路*化 —使測(cè)試回路殘余電感減至zui低，** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。

Automatic correction of 7 computer technology and test loop optimization makes the test loop residual inductance is reduced to the minimum, the complete eradication of Q reading values at different frequencies to be amended puzzle.

ZJD-C介電常數(shù)及介質(zhì)損耗測(cè)試儀的創(chuàng)新設(shè)計(jì)，無疑為高頻元器件的阻抗測(cè)量提供了*的解決方案，它給從事高頻電子設(shè)計(jì)的工程師、科研人員、高校實(shí)驗(yàn)室和電子制造業(yè)提供了更為方便的檢測(cè)工具，測(cè)量值更為精確，測(cè)量效率更高。使用者能在儀器給出的任何頻率、任意點(diǎn)調(diào)諧電容值下檢測(cè)器件的品質(zhì)，無須關(guān)注量程和換算單位。

Innovative design of ZJD-C dielectric constant and dielectric loss tester, undoubtedly provides the perfect solution for the high frequency components of the impedance measurement, it brought in high-frequency electronic design engineers, researchers, university laboratory and electronics manufacturing industry to provide a more convenient detection tool, measurement is more accurate, higher measurement efficiency. The user can value detection device quality at any point in any given frequency apparatus, tuning capacitor, without attention range and conversion unit.

主要技術(shù)特性

The main technical characteristics

Q 值測(cè)量范圍 2 ～ 1023 ，量程分檔： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自動(dòng)換檔或手動(dòng)換檔

Q measurement range of 2 ~ 1023, range: 30, 100 grade, 300, 1000, automatic or manual shift

固有誤差 ≤ 5 ％ ± 滿度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

The inherent error ≤ 5% ± full scale value of 2% (200kHz ~ 10MHz), ≤ 6% ± full scale value of 2% (10MHz ~ 160MHz)

工作誤差 ≤7％ ± 滿度值的2％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 滿度值的2％（10MHz～160MHz）

Work with error less than 7% ± full scale value of 2% (200kHz ~ 10MHz), ≤ 8% ± full scale value of 2% (10MHz ~ 160MHz)

電感測(cè)量范圍 4.5nH ～ 140mH

Inductance measurement range from 4.5nH to 140mH

電容直接測(cè)量范圍 1 ～ 200pF

Capacitance measurement range of 1 ~ 200pF