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晶閘管檢測儀

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所  在  地上海市

更新時間:2022-05-17 07:30:02瀏覽次數(shù):23次

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晶閘管參數(shù)測試系統(tǒng)采用指針式儀表和全手動操作,此方法讀數(shù)慢而且不夠準確,操作也比較繁瑣,不能適應目前自動化、大規(guī)模的生產(chǎn)方式。我們研制的晶閘管參數(shù)測試系統(tǒng)采用主從式設計,儀器采用高性能微控制器控制,配備大液晶顯示器,可以獨立工作。

1、晶閘管檢測儀概述 
本儀器是晶閘管觸發(fā)電壓VGT、觸發(fā)電流IGT和維持電流IH三項參數(shù)的測試設備。適用于各種反向阻斷晶閘管,逆導晶閘管及雙向晶閘管的參數(shù)測試。本測試儀設計*,結構合理,操作簡便。并具有數(shù)字顯示,自動測試等功能。其技術指標符合GB4024-83標準的規(guī)定,是電力半導體器件生產(chǎn)廠和使用單位zui為理想的檢測設備。
2、晶閘管檢測儀技術參數(shù)
2.1 A(T2)、K(T1)間的斷態(tài)電壓:DC 12V(內(nèi)部限流電阻6.8Ω)。
2.2 觸發(fā)電流、維持電流測量范圍:1-450mA
2.3 觸發(fā)電壓測量范圍:0-7V
2.4 測量時間:小于2S
2.5 工作條件
電源:AC 220V±10%  50HZ
溫度:0-40℃
2.6 整機功耗:小于75VA
2.7 整機重量:約10Kg
2.8 整機尺寸:440×440×150mm
3 結構特征
本儀器為箱式結構,數(shù)字顯示,讀數(shù)直觀方便。前部是面板,裝有控制鍵、數(shù)字顯示表和接線端子等。后蓋板上裝有三芯電源插座和保險絲盒(保險絲為0.5A/250V)。三線電源插頭的地端要可靠接地,以確保測試人員的安全和測試精度。
4 使用方法
4.1 面板說明(參見面板圖)
4.1.1 “電源”開關
此開關擲向開時,內(nèi)藏指示燈亮,電源接通。
  圖4.1  面板圖
4.1.2 “A(T2)、K(T1)、G”接線端子
被測器件接線端子
4.1.3 “mA”電流顯示表
顯示被測器件的觸發(fā)(維持)電流,單位毫安。
4.1.4 “V”電壓顯示表
顯示被測器件的觸發(fā)電壓,單位伏特。
4.1.5“IGⅠ+”觸發(fā)象限選擇鍵
按動此鍵,內(nèi)藏指示燈亮,主回路A(T2)接正、K(T1)接負、G接正,儀器處于觸發(fā)電流待測狀態(tài)。
4.1.6 “IGⅠ-”觸發(fā)象限選擇鍵
按動此鍵,內(nèi)藏指示燈亮,主回路A(T2)接正、K(T1)接負、G接負,儀器處于觸發(fā)電流待測狀態(tài)。
4.1.7 “IGⅢ-”觸發(fā)象限選擇鍵
按動此鍵,內(nèi)藏指示燈亮,主回路A(T2)接負、K(T1)接正、G接負,儀器處于觸發(fā)電流待測狀態(tài)。
4.1.8 “IH”功能選擇鍵
按動此鍵,內(nèi)藏指示燈亮,“mA”電流顯示表顯示大于“450”的某一數(shù)值,儀器處于維持電流待測狀態(tài)。
4.1.9 “復位”鍵
按動此鍵,在觸發(fā)參數(shù)待測狀態(tài)下,“mA”電流和“V”電壓顯示表顯示零。在維持電流待測狀態(tài)下,“mA”電流表顯示大于“450”的某一數(shù)值,“V”電壓表顯示的數(shù)值無意義。
4.1.10 “測試”鍵
按動此鍵,儀器開始根據(jù)功能選擇鍵所處的狀態(tài),自動進行相應的測試。測試過程中,測試鍵內(nèi)藏指示燈亮,測完后,指示燈自動熄滅。
4.2 電源線連接
三線電源插頭的地端要可靠接地,以確保測試人員的安全和測試精度。
4.3 測試步驟
4.3.1 打開“電源”開關。
4.3.2 將被測器件接在“A、K、G”接線端子上。
4.3.3 選擇“IGⅠ+”、“IGⅠ-”、“IGⅢ-”觸發(fā)象限功能鍵或“IH”維持電流功能鍵。
測試普通、快速晶閘管選擇“IGⅠ+”,測試KS雙向晶閘管分別選擇“IGⅠ+”、“IG Ⅰ-”、“IG Ⅲ-”,測試維持電流選擇“IH”。
4.3.4 按動“復位”鍵
如儀器處于觸發(fā)參數(shù)待測狀態(tài),電流、電壓顯示表回零。如儀器處于維持電流待測狀態(tài),電流顯示表顯示“450”mA左右的某一數(shù)值。
4.3.5 按動“測試”鍵
測觸發(fā)參數(shù)時,電流表和電壓表顯示的數(shù)字由小到大變化,測完自動停止變化;測維持電流時,電流表顯示數(shù)字由大到小變化,測完自動停止。測試過程中“測試”鍵內(nèi)藏指示燈亮,測完后指示燈自動熄滅。此時穩(wěn)定的顯示值即為測量讀數(shù)。(注:測維持電流時,電壓表顯示的數(shù)值無意義。整個測試過程在2秒內(nèi)完成)。
4.3.6 更換被測器件后,按4.3.3-4.3.5條操作即可。
注:對同一器件進行多次重復測試,測試過程由于被測器件發(fā)熱,參數(shù)會有所變化,測試中應注意。

 

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