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Inspector EXP多功能射線探測(cè)儀

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Inspector EXP射線探測(cè)儀，本品采用一支蓋革-彌勒外置探頭計(jì)數(shù)管來(lái)測(cè)量環(huán)境周圍中的α、β、γ和X射線輻射劑量和劑量率。

外置探頭  

連接：Amphenol 31226 twinax連接  

外殼：電鍍鋁并裝有黑色涂層泡沫把手  

體積：長(zhǎng)22.2 cm，直徑7 cm  

Inspector EXP射線探測(cè)儀應(yīng)用范圍：  

探測(cè)和測(cè)量物體表面沾污  

在操作放射性核素時(shí)監(jiān)測(cè)可能存在的放射性暴露量  

調(diào)查環(huán)境中放射性污染  

測(cè)定惰性氣體及其它低能放射性核素  

進(jìn)出口礦物及建筑裝飾材料表面放射性測(cè)定  

Inspector EXP技術(shù)指標(biāo)：

劑量率：mR/hr（毫倫/小時(shí)） 0.001-100

       μSV/ hr（微希伏/小時(shí)） 0.01-1000

計(jì)數(shù)： CPM（每分鐘計(jì)數(shù)） 0-300000

       CPS（每秒鐘計(jì)數(shù)） 0-5000

低響應(yīng)能量：γ和X線：20kev

              β>100kev

              α>2Mev，對(duì)Cs-137源為5.8Cps/μSv/h；

探測(cè)下限：對(duì)I-125是0.02微居；

精度：μSv/h：≤500μSv/h；范圍時(shí)≤15%，在500-1000μSv/h范圍≤20%；

          CPS：≤2500 CPS范圍時(shí)≤15%，在2500-5000CPS范圍≤20%；

探測(cè)效率：

        Beta：C-14 （49 keV avg. 156 keV max.）: 5.3%；Bi-210 （390 keV avg. 1.2 MeV 

max.）: 32%；

        Sr-90 （546 keV and 2.3 MeV）: 38%；P-32 （693 keV avg. 1.7 MeV max.）: 33%

        Alpha：Am-241 （5.5 MeV）: 18%

重量/體積：350g/150×80×30 mm