LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀TH2828S 返回列表頁(yè)

LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀TH2828S支持20V交流測(cè)試信號(hào)和40V直流偏置的高功率測(cè)試條件及列表掃描能力將有利于用戶擴(kuò)展元件評(píng)價(jià)的能力。四端對(duì)的端口配置方式可有效消除測(cè)試線電磁耦合的影響，將低阻抗測(cè)試能力的下限比常規(guī)五端配置的儀器向下擴(kuò)展了十倍。

LCR數(shù)字電橋測(cè)試儀TH2828S廣泛的測(cè)量對(duì)象：無(wú)源元件：電容器、電感器、磁芯、電阻器、壓電器件、變壓器、芯片組件和網(wǎng)絡(luò)元件等的阻抗參數(shù)評(píng)估和性能分析。半導(dǎo)體元件：變?nèi)荻O管的C-VDC特性；晶體管或集成電路的寄生參數(shù)分析其它元件：印制電路板、繼電器、開(kāi)關(guān)、電纜、電池等的阻抗評(píng)估介質(zhì)材料：塑料、陶瓷和其它材料的介電常數(shù)和損耗角評(píng)估磁性材料：鐵氧體、非晶體和其它磁性材料的導(dǎo)磁率和損耗角評(píng)估半導(dǎo)體材料：半導(dǎo)體材料的介電常數(shù)、導(dǎo)電率和C-V特性液晶材料：液晶單元的介電常數(shù)、彈性常數(shù)等C-V特性

TH2828S測(cè)試儀LCR數(shù)字電橋性能特點(diǎn)

阻抗測(cè)量范圍寬的自動(dòng)平衡電橋技術(shù)

四端對(duì)端口配置有效消除測(cè)試線電磁耦合

基本準(zhǔn)確度0.05%

高達(dá)1MHz的測(cè)量頻率范圍

交流測(cè)試信號(hào)可編程至20V(選件)

高達(dá)30次/秒的測(cè)量速度

六位讀數(shù)分辨率

可測(cè)量22種阻抗參數(shù)組合

30 Ω, 100 Ω可選信號(hào)源輸出阻抗

10點(diǎn)列表掃描測(cè)試功能

曲線掃描分析功能

內(nèi)部可編程直流偏置±40V/100mA(選件)

外置偏流源至40A

電壓或電流的自動(dòng)電平調(diào)整(ALC)功能

V、I測(cè)試信號(hào)電平監(jiān)視功能

20組內(nèi)部?jī)x器設(shè)定可供儲(chǔ)存/讀取

內(nèi)建比較器,10檔分選及計(jì)數(shù)功能

RS232C,GPIB,HANDLER接口

2m/4m測(cè)試電纜擴(kuò)展(選件)

USB接口供數(shù)據(jù)外存

320×240點(diǎn)陣大型圖形LCD顯示

中英文可選操作界面