四探針方阻電阻率測試儀（北京供應商）廣泛用于：
覆蓋膜;
導電高分子膜，
高、低溫電熱膜;
隔熱、防輻射導電窗膜 導電(屏蔽)布、
裝飾膜、裝飾紙;
金屬化標簽、合金類箔膜;
熔煉、燒結、濺射、涂覆、涂布層，電阻式、電容式觸屏薄膜;
電極涂料，
其他半導體材料、
薄膜材料方阻測試
硅晶塊、
晶片電阻率及擴散層、
外延層、
ITO導電箔膜、
導電橡膠等材料方塊電阻
半導體材料/晶圓、
太陽能電池、
電子元器件，
導電薄膜（ITO導電膜玻璃等），
金屬膜，
導電漆膜，
蒸發(fā)鋁膜，
PCB銅箔膜，
EMI涂層等物質(zhì)的薄層電阻與電阻率
導電性油漆，
導電性糊狀物，
導電性塑料，
導電性橡膠，
導電性薄膜，
金屬薄膜，
抗靜電材料，
EMI 防護材料，
導電性纖維，
導電性陶瓷等
四探針方阻電阻率測試儀（北京供應商）適用標準：
按照硅片電阻率測量的標準（ASTM F84）
標準設計制造該儀器設計符合GB/T 1551-2009 《硅單晶電阻率測定方法》、
GB/T 1551-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流兩探針法》、
GB/T 1552-1995《硅、鍺單晶電阻率測定直流四探針法》
并參考美國 A.S.T.M 標準，本機配置232電腦接口及USB兩種接口，本機結合采用范德堡測量原理能改善樣品因幾何尺寸、邊界效應、探針不等距和機械游移等外部因素對測量結果的影響及誤差，比市場上其他普通的四探針測試方法更加完善和進步,特別是方塊電阻值較小的產(chǎn)品測量，更加準確.
本儀器本儀器采用四探針單電測量法適用于：
生產(chǎn)企業(yè)、高等院校、科研部門，
是檢驗和分析導體材料和半導體材料質(zhì)量的一種重要的工具。
儀器特點：
配置各類測量裝置可以測試不同材料。
液晶顯示，無需人工計算，并帶有溫度補償功能，電阻率單位自動選擇，儀器自動測量并根據(jù)測試結果自動轉換量程，無需人工多次和重復設置。
采用高精度AD芯片控制，恒流輸出，結構合理、質(zhì)量輕便，運輸安全、使用方便；選配：配備軟件可以由電腦操控，并保存和打印數(shù)據(jù)，自動生成報表；
本儀器采用4.3吋大液晶屏幕顯示，同時顯示液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率，配置不同的測試治具可以滿足不同材料的測試要求。測試治具可以根據(jù)產(chǎn)品及測試項目要求選購.
參數(shù)資料
1.方塊電阻范圍：10-2～2×103Ω/□
2.電阻率范圍：10-3～2×104Ω-cm
3.測試電流范圍：1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
4.電流精度：±0.3%讀數(shù)
5.電阻精度：≤0.5%
6.顯示讀數(shù)：液晶顯示：電阻、電阻率、方阻、溫度、單位換算、溫度系數(shù)、電流、電壓、探針形狀、探針間距、厚度 、電導率
7.測試方式: 普通單電測量
8.工作電源: 輸入: AC 220V±10% ,50Hz 功 耗：<30W
9.整機不確定性誤差: ≤4%（標準樣片結果）
10.選購功能: 選購1.pc軟件； 選購2.方形探頭； 選購3.直線形探頭； 選購4.測試平臺
11.測試探頭： 探針間距選購：1mm；2mm；3mm三種規(guī)格; 探針材質(zhì)選購：碳化鎢針;白鋼針；鍍金磷銅半球形針
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