AOD-SAP-BSAP-B 光譜應(yīng)用綜合實(shí)訓(xùn)系統(tǒng) 返回列表頁

一、產(chǎn)品簡介

 光纖光譜儀作為一種成本低、小型化、穩(wěn)定性高的分析儀器，具有其它技術(shù)*的優(yōu)勢，成為我國民生與工農(nóng)業(yè)領(lǐng)域*的重要設(shè)備。國內(nèi)不少院校開始開設(shè)相關(guān)課程以滿足光譜產(chǎn)業(yè)化發(fā)展的人才需求，但是相關(guān)知識分散在化學(xué)、材料、印刷等非光電領(lǐng)域的課程培養(yǎng)中。對于光電領(lǐng)域的學(xué)生，往往要在走上工作崗位以后才能接觸這些應(yīng)用，又不能系統(tǒng)性地掌握測量方法，而非光電領(lǐng)域的學(xué)生，通常又欠缺光學(xué)和光電子學(xué)的基礎(chǔ)。
  針對這個現(xiàn)狀，我們開發(fā)了這套光學(xué)理論結(jié)合行業(yè)實(shí)踐的光譜創(chuàng)新實(shí)驗(yàn)系統(tǒng)，通過這套系統(tǒng)，讓光電專業(yè)學(xué)生提前了解理論應(yīng)用于實(shí)踐過程中的問題，幫助農(nóng)業(yè)、醫(yī)藥、化學(xué)等學(xué)科的學(xué)生了解基礎(chǔ)光電技術(shù)，并可以作為教師和學(xué)生面對廣闊應(yīng)用的科研開發(fā)平臺。

二、知識點(diǎn)

光纖光譜儀、光譜分辨率、投射光譜、反射光譜、熒光光譜、原子發(fā)射光譜、拉曼光譜、復(fù)雜光譜、LED光色電參數(shù)測量、薄膜厚度測量

三、涉及課程

光電顯示技術(shù)、LED顯示技術(shù)、光電子技術(shù)、光源與照明技術(shù)、生物、醫(yī)療、農(nóng)業(yè)、化工

四、實(shí)驗(yàn)內(nèi)容

光度學(xué)測量

1、光度學(xué)基礎(chǔ)知識與光度學(xué)測量

2、光源光度測量

3、驗(yàn)證光度學(xué)基本定律

4、光度學(xué)量與光譜的關(guān)系

5、不同光源電光效率的對比

輻射度學(xué)與輻射校準(zhǔn)

1、輻射校準(zhǔn)的流程

2、應(yīng)用輻射校準(zhǔn)

3、測量鹵素?zé)舻妮椛涮匦?/p>

反射顏色測量

1、反射光譜測量的原理與分類

2、反射式光譜測量光路設(shè)計(jì)

3、反射譜測量的幾何條件

4、測量實(shí)際樣品的顏色

色度學(xué)測量

1、測量光源三刺激值

2、測量色溫與顯色指數(shù)

3、LED的種類與光譜測量

4、LED測量的幾何條件

5、工業(yè)分選LED

6、光源配色

透射測量與濾光片測量

1、 透過率測量光路

2、 測量濾光片光譜透過率

3、 光纖損耗測量

分光光度法

1、測量光路的搭建

2、分光光度法校準(zhǔn)

3、分光光度法測量濃度

熒光測量

1、光致發(fā)光的現(xiàn)象與測量光路搭建

2、測量樣品的熒光發(fā)射光譜

3、搭建熒光光度計(jì)

4、紫外LED熒光測量

薄膜測厚

1、搭建薄膜測厚的光路

2、測量標(biāo)準(zhǔn)薄膜樣品的厚度

3、測量實(shí)際樣品的厚度

高分辨率光譜測量-激光與原子發(fā)射光譜（B型）

1、搭建測量光路

2、對比多種激光器的光譜特征

3、激光器的模式競爭實(shí)驗(yàn)

4、半導(dǎo)體激光器的光譜與溫度的關(guān)系

5、通過對輝光球的發(fā)射光譜的測量，分析輝光球中的氣體成分

拉曼光譜及物質(zhì)鑒別（C型）

1、測試?yán)?測試?yán)庾V測量的基本器件

2、拉曼激光器特性測量實(shí)驗(yàn)

3、搭建拉曼光譜光路

4、拉曼光譜用于成分分析

復(fù)雜光譜測量

1、宏觀角分辨光譜測量實(shí)驗(yàn)

2、顯微光譜測量實(shí)驗(yàn)

3、顯微角分辨光譜測量實(shí)驗(yàn)SAP-B 光譜應(yīng)用綜合實(shí)訓(xùn)系統(tǒng)