X熒光光譜儀 X光管光譜檢測(cè)儀 專業(yè)貴金屬檢測(cè)儀 鍍層厚度檢測(cè)測(cè)量?jī)x
EDX600貴金屬檢測(cè)儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器,以實(shí)在的價(jià)格定位,滿足貴金屬的成分檢測(cè)和鍍層厚度測(cè)量的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì),使儀器操作更人性化、更方便。
X熒光光譜儀 X光管光譜檢測(cè)儀 專業(yè)貴金屬檢測(cè)儀 鍍層厚度檢測(cè)測(cè)量?jī)x
型號(hào):AODJ-EDX600
儀器介紹
EDX600貴金屬檢測(cè)儀使用高效而實(shí)用的正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器,以實(shí)在的價(jià)格定位,滿足貴金屬的成分檢測(cè)和鍍層厚度測(cè)量的要求,且全新的更具有現(xiàn)代感的外形、結(jié)構(gòu)及色彩設(shè)計(jì),使儀器操作更人性化、更方便。
性能特點(diǎn)
專業(yè)貴金屬檢測(cè)、鍍層厚度檢測(cè)。
智能貴金屬檢測(cè)軟件,與儀器硬件相得益彰。
任意多個(gè)可選擇的分析和識(shí)別模型。
相互獨(dú)立的基體效應(yīng)校正模型。
多變量非線性回收程序。
技術(shù)指標(biāo)
元素分析范圍:從鉀(K)到鈾(U)。
測(cè)量對(duì)象:固體、液體、粉末
分析檢出限可達(dá):1ppm。
分析含量一般為:1ppm到99.9%。
多次測(cè)量重復(fù)性可達(dá):0.1%。
*工作穩(wěn)定性為:0.1%。
標(biāo)準(zhǔn)配置
單樣品腔。
正比計(jì)數(shù)盒探測(cè)器。
信號(hào)檢測(cè)電子電路。
高低壓電源。
X光管。
應(yīng)用領(lǐng)域
黃金、鉑、銀等貴金屬和各種首飾的含量檢測(cè)。
金屬鍍層的厚度測(cè)量和電鍍液和鍍層含量的測(cè)定。
主要用于貴金屬加工和首飾加工行業(yè);銀行,首飾銷(xiāo)售和檢測(cè)機(jī)構(gòu);電鍍行業(yè)。