集成電路芯片電參數(shù)檢測儀
與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。
集成電路芯片電參數(shù)檢測儀 探針測試臺(tái) 中測臺(tái) 點(diǎn)測機(jī) 晶體管芯電參數(shù)測試儀
集成電路芯片電參數(shù)檢測儀 型號(hào)AODD-ST-102B
、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。
技 術(shù) 指 標(biāo):
工作臺(tái)面370mm*245mm
載物臺(tái)直徑4"
光學(xué)參數(shù)總放大率:21-135倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm;
精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;zui小刻劃:1°;
銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm
三維探針座探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ;
三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定,由磁性開關(guān)控制;
zui多可布三維探針座6個(gè);
探針臂伸出長度:60mm;
探針長度:40mm;
探針探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm;
技 術(shù) 指 標(biāo):
工作臺(tái)面370mm*245mm
載物臺(tái)直徑4"
光學(xué)參數(shù)總放大率:21-135倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm;
精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;zui小刻劃:1°;
銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm
三維探針座探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ;
三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定,由磁性開關(guān)控制;
zui多可布三維探針座6個(gè);
探針臂伸出長度:60mm;
探針長度:40mm;
探針探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm;