集成電路芯片電參數(shù)檢測儀
與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。
集成電路芯片電參數(shù)檢測儀 探針測試臺 中測臺 點(diǎn)測機(jī) 晶體管芯電參數(shù)測試儀
集成電路芯片電參數(shù)檢測儀 型號AODD-ST-102B
、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試，適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。
技 術(shù) 指 標(biāo)：
工作臺面370mm*245mm
載物臺直徑4"
光學(xué)參數(shù)總放大率：21-135倍；手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm；
精密旋轉(zhuǎn)臺粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；zui小刻劃：1°；
銅盤直徑：Φ85mm；絕緣盤直徑：Φ102mm
三維探針座探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；
三維探針座在工作臺面可任意位置固定，由磁性開關(guān)控制；
zui多可布三維探針座6個(gè)；
探針臂伸出長度：60mm；
探針長度：40mm；
探針探針材質(zhì)硬質(zhì)合金，針尖曲率半徑2μm；
技 術(shù) 指 標(biāo)：
工作臺面370mm*245mm
載物臺直徑4"
光學(xué)參數(shù)總放大率：21-135倍；手輪調(diào)焦范圍：60mm；升降調(diào)焦范圍：200mm；
精密旋轉(zhuǎn)臺粗調(diào)范圍：360°；微調(diào)范圍：±10°；zui小刻劃：1°；
銅盤直徑：Φ85mm；絕緣盤直徑：Φ102mm
三維探針座探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍：±3.25mm，分辨率±2μ；
三維探針座在工作臺面可任意位置固定，由磁性開關(guān)控制；
zui多可布三維探針座6個(gè)；
探針臂伸出長度：60mm；
探針長度：40mm；
探針探針材質(zhì)硬質(zhì)合金，針尖曲率半徑2μm；
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