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當(dāng)前位置:北京愛歐德儀器設(shè)備有限公司>>電力通訊儀器系例>>測量儀>> AODD-ST-102B集成電路芯片電參數(shù)檢測儀

集成電路芯片電參數(shù)檢測儀

參  考  價(jià)面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào)AODD-ST-102B

品       牌

廠商性質(zhì)生產(chǎn)商

所  在  地北京市

更新時(shí)間:2022-04-30 14:10:03瀏覽次數(shù):45次

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集成電路芯片電參數(shù)檢測儀
與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。

集成電路芯片電參數(shù)檢測儀 探針測試臺(tái) 中測臺(tái) 點(diǎn)測機(jī) 晶體管芯電參數(shù)測試儀 

集成電路芯片電參數(shù)檢測儀 型號(hào)AODD-ST-102B

、與測試儀器配接后可用于集成電路芯片及各種晶體管芯的電參數(shù)測試及功能調(diào)試,適用于科研、新品試制及小批量生產(chǎn)的中間測試。

技 術(shù) 指 標(biāo):

工作臺(tái)面370mm*245mm

載物臺(tái)直徑4"

光學(xué)參數(shù)總放大率:21-135倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm;

精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;zui小刻劃:1°;

銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm

三維探針座探針座X、Y、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ;

三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定,由磁性開關(guān)控制;

zui多可布三維探針座6個(gè);

探針臂伸出長度:60mm;

探針長度:40mm;

探針探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm;

技 術(shù) 指 標(biāo):

工作臺(tái)面370mm*245mm

載物臺(tái)直徑4"

光學(xué)參數(shù)總放大率:21-135倍;手輪調(diào)焦范圍:60mm;升降調(diào)焦范圍:200mm;

精密旋轉(zhuǎn)臺(tái)粗調(diào)范圍:360°;微調(diào)范圍:±10°;zui小刻劃:1°;

銅盤直徑:Φ85mm;絕緣盤直徑:Φ102mm

三維探針座探針座XY、Z方向調(diào)節(jié)范圍:±3.25mm,分辨率±2μ;

三維探針座在工作臺(tái)面可任意位置固定,由磁性開關(guān)控制;

zui多可布三維探針座6個(gè);

探針臂伸出長度:60mm

探針長度:40mm;

探針探針材質(zhì)硬質(zhì)合金,針尖曲率半徑2μm;

 

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