微處理器控制電解電容漏電流檢測(cè)儀 電解電容漏電流測(cè)試儀 智能型電解電容漏電流測(cè)量?jī)x
微處理器控制電解電容漏電流檢測(cè)儀 型號(hào):AODD-CT5TH2686
產(chǎn)品概述
智能型,微處理器控制
電壓,電流雙數(shù)字示顯
電流zui小分辨率達(dá)1nA
按鍵清零
測(cè)試電流值鎖定功能
*的抗*力
簡(jiǎn)要介紹:
電解電容漏電流測(cè)試儀是一種以微處理技術(shù)為基礎(chǔ)的自動(dòng)測(cè)量電解電容漏電流參數(shù)的測(cè)試儀器。測(cè)試電壓連續(xù)可調(diào),電壓三位數(shù)字顯示,電流三位半數(shù)字顯示,充電 — 測(cè)試自動(dòng)轉(zhuǎn)換,zui大測(cè)試電壓200 V(TH2685) / 500 V (TH2686),zui大測(cè)試電流20mA,zui大充電電流200 mA,zui大充電時(shí)間為99.9秒。儀器具有電流超限指示,測(cè)試速度快,操作方便,安全可靠等特點(diǎn)。適用于電解電容器生產(chǎn)線質(zhì)量保證、進(jìn)貨檢驗(yàn)等要求。
技術(shù)參數(shù) :
CT5TH2686 0 — 500 V
電壓準(zhǔn)確度 ±1%設(shè)置定值 ±1個(gè)字
測(cè)量范圍 10 nA — 19.99 mA, 分辨率: 1 nA
電流準(zhǔn)確度 ±2% 讀數(shù) ±2個(gè)字
控制方式 微處理器
顯示方式 數(shù)字顯示, 電壓: 3位, 電流: 3 1/2位
zui大充電電流 200(1±20%) mA
充電時(shí)間 0 — 99.9秒, 準(zhǔn)確度: 2%Tset ±0.5秒
極限設(shè)置 0 — 99×109(nA)
分選 合格,不合格, 不合格訊響
技術(shù)指標(biāo)
工作溫度, 濕度 0℃ — 40℃, ≤90% RH
電源要求 198 V — 242 V AC, 47.5 Hz — 52.5 Hz
功耗 ≤50 VA
尺寸(W×H×D) 350 mm×135 mm×357 mm
重量 約4.7 kg