立式光學(xué)計 返回列表頁

立式光學(xué)計用途

        本儀器是一種采用量塊或標(biāo)準(zhǔn)零件與試件相比較的方式測量物體外形尺寸的儀器。主要用于五等精度量塊，一級精度柱型規(guī)及各種圓柱形，球形，線形等物體的直徑或板形物體的厚度的精密測量，對被測件作微小位移測量。亦可用來控制精密零件的加工。
立式光學(xué)計技術(shù)參數(shù)
被測件zui大長度  180 mm
直接測量范圍      ≥±0.1 mm
分劃板分度值      0.001 mm
總放大倍數(shù)         1000×
測量力                (2±0.2) N
zui大不準(zhǔn)確度      ±0.00025 mm 
儀器體積            300×160×410 mm  
儀器重量            30 kg   
標(biāo)準(zhǔn)配件    可調(diào)帶筋園臺、可調(diào)園平臺、帶筋固定方臺

                   平面測帽、平面測帽、小球面測帽、刃形測帽