BM-KLX顆粒圖像檢測儀技術(shù)參數(shù): | ||||||||||||||||||||||||||||||||||
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BM-KLX顆粒圖像檢測儀
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顆粒圖像檢測儀采用落射式柯勒照明,利用反射平行光原理觀察不透明反射物體表面結(jié)構(gòu)及輪廓,輔以視頻采集系統(tǒng)、計算機軟件對生物細胞組織及微粒進行幾何測量分析
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