概覽
- Simply the best AFM for automatic defect review and surface roughness measurement
- 對于媒介和基體領域的工程師而言,識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級實現(xiàn)自動缺陷識別、掃描和分析,從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學檢查工具直接進行連接,這就意味著自動缺點檢查通量會大幅提高。此外,Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內(nèi)極低的本底噪聲和的True Non-Contact™技術,Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量精確的原子力顯微鏡。
- Higher Throughput, Automatic Defect Review
- 對于媒介和基體領域的工程師而言,識別納米級缺陷是一個非常耗時的工作。Park NX-HDM原子力顯微鏡系統(tǒng)可借助數(shù)量級實現(xiàn)自動缺陷識別、掃描和分析, 從而加快缺陷的檢查過程。Park NX-HDM可與眾多的光學檢查工具直接進行連接,這就意味著自動缺點檢查通量會大幅提高。
- Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement
- 業(yè)內(nèi)對于超平媒介和基體的要求越來越高,所以需要滿足設備體積不斷減小的需求。此外,Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內(nèi)極低的本底噪聲和的True Non-Contact™技術,Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量精確的原子力顯微鏡
應用
- Automatic Defect Review for Media and Substrates
- Higher Throughput, Automatic Defect Review
- NX-HDM的自動缺陷檢查功能(Park ADR)可加速和改良媒介和基體缺陷的識別、掃描和分析流程。借助光學檢查工具所提供的缺陷位置圖,Park ADR可自動定位這些位置并進行成像(分兩步):
(1) 縮小掃描成像,以準確定位缺陷。
(2) 放大掃描成像,以獲取缺陷的細節(jié)。在真實缺陷測試中,我們可以看到相比于傳統(tǒng)的方法,該自動功能可將缺陷檢查通量提高10倍。
- Automated Search Scan & Zoom-in Scan
- 經(jīng)過優(yōu)化的掃描參數(shù)讓兩步式掃描更為快速:
(1) 快速的低分辨率搜尋式掃描,來準確定位缺陷。
(2) 高分辨率的放大掃描,來獲取缺陷的細節(jié)??烧{(diào)節(jié)的掃描尺寸和掃描速度參數(shù)能滿足用戶的所有需求。
- Automatic Transfer and Alignment of Defect Maps to AFM
- 借助的映射算法,從自動光學檢測(APO)工具中獲取的缺陷坐標圖可準確地傳入和映射至Park NX-HDM。該技術讓全自動高通量缺陷成像成為可能。
- Map of Defect Coordinates from an Optical Inspection Tool
- Accurate Sub-Angstrom Surface Roughness Measurement
- Sub-Angstrom, Surface Roughness Measurement
- 業(yè)內(nèi)對于超平媒介和基體的要求越來越高,所以需要滿足設備體積不斷減小的需求。此外,Park NX-HDM擁有精確的次埃米表面粗糙度測量功能。憑借著業(yè)內(nèi)較低的本底噪聲和的True Non-Contact™技術,Park NX-HDM毫無疑問是市面上表面粗糙度測量精確的原子力顯微鏡。
- Accurate AFM Topography with Low Noise Z Detector
- True Sample Topography™ without piezo creep error
選配
- Automatic Measurement Control
- 自動化軟件讓NX-HDM的操作不費吹灰之力。測量程序針對懸臂調(diào)諧、掃描速率、增益和點參數(shù)進行優(yōu)化,為您提供多位置分析。自動化軟件會按照測量文件中預設的程序進行樣品測量。Park的用戶友好型軟件界面讓用戶可靈活執(zhí)行全系統(tǒng)功能。創(chuàng)建新測量文件只需要10分鐘左右的時間,而修改現(xiàn)有的測量文件則需要不到5分鐘的時間。
- Park NX-HDM具有:
自動、半自動和手動模式
各自動程序的可編輯測量方法
測量過程實時監(jiān)測
自動分析所獲取的測量數(shù)據(jù)
- Ionization System
- 離子化系統(tǒng)可有效地消除靜電電荷。由于系統(tǒng)隨時可生產(chǎn)和位置正離子和負離子之間的理想平衡,便可以穩(wěn)定地離子化帶電物體,且不會污染周邊區(qū)域。它也可以消除樣品處理過程中意外生成的靜電電荷。
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