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梅特勒XP204分析天平工作原理

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更新時(shí)間:2022-05-12 11:30:03瀏覽次數(shù):5次

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我們的 StaticDetect 靜電檢測(cè)技術(shù)可檢測(cè)樣品或其容器上的靜電荷。 如果稱量錯(cuò)誤*過用戶定義的限值,則出現(xiàn)警告;然后可以采取防靜電措施。 為了獲得過程安全性,可鎖定稱量結(jié)果的發(fā)布。梅特勒XP204分析天平工作原理

梅特勒XP204分析天平工作原理

梅特勒XP204分析天平產(chǎn)品特點(diǎn):

zui大限度地減少靜電荷

我們的 StaticDetect 靜電檢測(cè)技術(shù)可檢測(cè)樣品或其容器上的靜電荷。 如果稱量錯(cuò)誤*過用戶定義的限值,則出現(xiàn)警告;然后可以采取防靜電措施。 為了獲得過程安全性,可鎖定稱量結(jié)果的發(fā)布。

用戶引導(dǎo)過程管理

梅特勒-托利多的 LabX® 實(shí)驗(yàn)室軟件可在天平觸摸屏上顯示的靈活的 SOP 用戶指南。 利用自動(dòng)數(shù)據(jù)處理、計(jì)算和報(bào)告,具有 LabX 軟件的天平可以輕松實(shí)現(xiàn)??過程安全性和可追溯性要求,并支持您實(shí)現(xiàn)無紙化實(shí)驗(yàn)室。

結(jié)果可靠

*越系列分析天平將獲得的梅特勒-托利多稱量技術(shù)與數(shù)十年的稱量專業(yè)知識(shí)相結(jié)合,確保您快速、可靠地獲得*的稱量結(jié)果!

無需接觸天平的操作

*越系列分析天平采用人體工程學(xué)設(shè)計(jì),旨在盡量使您的生活變得輕松。 SmartSens™ 紅外感應(yīng)器可使您揮一下手即可進(jìn)行操作,使稱量任務(wù)更加輕松,避免交叉污染問題(例如:打開/關(guān)閉防風(fēng)罩門)。

易于清潔

憑借*的網(wǎng)格秤盤和可在數(shù)秒鐘內(nèi)拆卸的防風(fēng)罩,始終確保稱量區(qū)域清潔、安全。

梅特勒XP204分析天平工作原理

梅特勒XP204分析天平技術(shù)參數(shù):

型號(hào)

XP105DR

XP204

XP205

XP205DR

XP504

zui大稱量值

120g

220g

220g

220g

520g

精細(xì)量程的zui大稱量值

31g

……

……

81g

……

可讀性

0.1mg

0.1mg

0.01mg

0.1mg

0.1mg

精細(xì)量程的可讀性

0.01mg

 

 

0.01mg

 

重復(fù)性:正常加載(sd)

0.06mg(100g)

0.07mg(200g)

0.03mg(200g)

0.06mg(200g)

0.12mg(500g)

重復(fù)性:微量加載

0.05mg(10g)

0.05mg(10g)

0.015mg(10g)

0.05mg(10g)

0.01mg(10g)

重復(fù)性:精細(xì)量程微量加載

0.015mg(10g)

……

……

0.015mg(10g)

……

線性

0.15mg

0.2mg

0.1mg

0.15mg

0.4mg

四角誤差

0.2mg(50g)

0.25mg(100g)

0.2mg(100g)

0.25mg(100g)

0.4mg(200g)

靈敏度漂移

4x10-6

3x10-6

2x10-6

2.5x10-6

3x10-6

靈敏度溫度漂移(10-30°C)

1x10-6/°C

接口更新速率

23/s

天平外型尺寸

(W×D×H mm)263×486.5×322

秤盤尺寸(W×D mm)

76×73

      

 

【關(guān)鍵詞】:分析天平 梅特勒XP204分析天平 電子分析天平規(guī)格

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