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LEPTOSKOP2042NFE德國(guó)KD卡爾德意志LEPTOSKOP2042NFE統(tǒng)計(jì)型涂層測(cè)厚儀,測(cè)厚儀
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  • LEPTOSKOP2042NFE 產(chǎn)品型號(hào)
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訪問次數(shù):7更新時(shí)間:2022-05-01 18:50:02

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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介:
  LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法,是*的涂層測(cè)厚儀。通過解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。
  LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚。
  儀器將一種
產(chǎn)品介紹

成都恒通興業(yè)科技有限責(zé)任公司專業(yè)為您*德國(guó)KD卡爾德意志LEPTOSKOP2042NFE統(tǒng)計(jì)型涂層測(cè)厚儀

LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀簡(jiǎn)介:

  LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀具有精準(zhǔn)的測(cè)量技術(shù)和簡(jiǎn)單的操作方法,是*的涂層測(cè)厚儀。通過解鎖代碼,可以使儀器在現(xiàn)場(chǎng)迅速的升級(jí)。

  LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀 利用磁感應(yīng)法(DIN EN ISO 2178)測(cè)量鐵磁基體上的非鐵磁層的厚度并且利用渦流法(DIN EN ISO 2360)測(cè)量非鐵磁材料上覆蓋的非導(dǎo)電層厚。

  儀器將一種把測(cè)厚值顯示為模擬指針的工具和近似WINDOWS一樣的文件管理系統(tǒng)相結(jié)合,同時(shí)提供10種可供任意選擇的語(yǔ)言,以滿足客戶的各種需求。

  LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀是一種經(jīng)濟(jì)的產(chǎn)品,電池壽命長(zhǎng),可以連續(xù)工作100小時(shí)以上。儀器記錄工作時(shí)間和測(cè)量數(shù)量,因此一些重要的參數(shù)可以被保存。

  彩色的橡膠皮套也是在供貨范圍內(nèi),可以保護(hù)儀器在工業(yè)環(huán)境中意外滑落不受損害。

LEPTOSKOP2042技術(shù)參數(shù):

        數(shù)據(jù)傳輸接口RS232 或 USB

  電源:電池、充電電池、USB或外接電源

  測(cè)量范圍: 0 - 20000 um (取決于探頭)

  測(cè)量速度: 每秒測(cè)量2個(gè)數(shù)值

  存儲(chǔ): zui多 9999 個(gè)數(shù)值,140個(gè)文件

  誤差:

  涂層厚度 < 100 um: 1% 讀數(shù) +/- 1 um (校準(zhǔn)后)

  涂層厚度 > 100 um: 1-3% 讀數(shù) +/- 1 um

  涂層厚度 > 1000 um: 3-5% 讀數(shù) +/- 10 um

  涂層厚度 > 10000 um: 5% 讀數(shù) +/- 100 um

LEPTOSKOP2042涂層測(cè)厚儀附件:

  試塊和膜片

  探頭定位裝置 (適用于微型探頭)

  定位輔助裝置 (適用于微型探頭)

  電腦軟件 STATWIN 2002 用于數(shù)據(jù)傳輸和對(duì)整個(gè)目錄結(jié)構(gòu)的便捷管理

  電腦軟件 EasyExport 用于把單獨(dú)的讀數(shù)或全部文件傳輸?shù)絎indows

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