介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀概述
介質(zhì)損耗和介電常數(shù)是各種電瓷、裝置瓷、電容器等陶瓷,還有復(fù)合材料等的一項(xiàng)重要的物理性質(zhì),通過(guò)測(cè)定介質(zhì)損耗角正切tanδ及介電常數(shù)(ε),可進(jìn)一步了解影響介質(zhì)損耗和介電常數(shù)的各種因素,為提高材料的性能提供依據(jù);儀器的基本原理是采用高頻諧振法,并提供了,通用、多用途、多量程的阻抗測(cè)試。
它以單片計(jì)算機(jī)作為儀器的控制,測(cè)量核心采用了頻率數(shù)字鎖定,標(biāo)準(zhǔn)頻率測(cè)試點(diǎn)自動(dòng)設(shè)定,諧振點(diǎn)自動(dòng)搜索,Q值量程自動(dòng)轉(zhuǎn)換,數(shù)值顯示等新技術(shù),改進(jìn)了調(diào)諧回路,使得調(diào)諧測(cè)試回路的殘余電感減至zui低,并保留了原Q表中自動(dòng)穩(wěn)幅等技術(shù),使得新儀器在使用時(shí)更為方便,測(cè)量值更為精確。
儀器能在較高的測(cè)試頻率條件下,測(cè)量高頻電感或諧振回路的Q值,電感器的電感量和分布電容量,電容器的電容量和損耗角正切值,電工材料的高頻介質(zhì)損耗,高頻回路有效并聯(lián)及串聯(lián)電阻,傳輸線特性阻抗等。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀特點(diǎn)
雙掃描技術(shù) - 測(cè)試頻率和調(diào)諧電容的雙掃描、自動(dòng)調(diào)諧搜索功能。
雙測(cè)試要素輸入 - 測(cè)試頻率及調(diào)諧電容值皆可通過(guò)數(shù)字按鍵輸入。
雙數(shù)碼化調(diào)諧 - 數(shù)碼化頻率調(diào)諧,數(shù)碼化電容調(diào)諧。
自動(dòng)化測(cè)量技術(shù) -對(duì)測(cè)試件實(shí)施 Q 值、諧振點(diǎn)頻率和電容的自動(dòng)測(cè)量。
全參數(shù)液晶顯示 – 數(shù)字顯示主調(diào)電容、電感、 Q 值、信號(hào)源頻率、諧振指針。
DDS 數(shù)字直接合成的信號(hào)源 -確保信源的高葆真,頻率的高精確、幅度的高定。
計(jì)算機(jī)自動(dòng)修正技術(shù)和測(cè)試回路*化 —使測(cè)試回路 殘余電感減至zui低,** Q 讀數(shù)值在不同頻率時(shí)要加以修正的困惑。
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀參數(shù)
Q 值測(cè)量范圍 2 ~ 1023
固有誤差 ≤ 5 %
工作誤差 ≤7%
電感測(cè)量范圍 4.5nH ~ 140mH
電容直接測(cè)量范圍 1 ~ 200pF
主電容調(diào)節(jié)范圍 18 ~ 220pF
主電容調(diào)節(jié)準(zhǔn)確度 1 %
信號(hào)源頻率覆蓋范圍 100kHz ~ 160MHz
頻率分段 ( 虛擬 ) 100 ~ 160MHz
頻率指示誤差 3 × 10 -5 ± 1 個(gè)字
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀技術(shù)特性
平板電容器: 極片尺寸:Φ50mm/Φ38mm 可選
極片間距可調(diào)范圍:≥15mm
2. 夾具插頭間距:25mm±0.01mm
3. 夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)
4.測(cè)微桿分辨率:0.001mm
介電常數(shù)介質(zhì)損耗測(cè)試儀注意事項(xiàng)
? 開(kāi)機(jī)之前,敬請(qǐng)仔細(xì)閱讀本 使用指南,以防止出現(xiàn)對(duì)操作人員的意外傷
害或?qū)x器的損壞等的事件。
? 操作前,請(qǐng)閱讀“安裝與設(shè)置”,保證對(duì)儀器各部件的正確安裝與連接。
? 在*次操作前,務(wù)必請(qǐng)有操作經(jīng)驗(yàn)的人員進(jìn)行指導(dǎo),防止誤操作造成意外
事件的發(fā)生。
? 電擊危險(xiǎn): 確保在安裝或維修該儀器之前使所有導(dǎo)線斷電,防止在帶電情
況下,對(duì)人員或設(shè)備造成傷害。